日本Lambda-vision拉姆达-低成本平面基板透射率/反射率测量单元 LV-RTM
这是一种非常紧凑且低成本
的平面基板透射率/反射率测量装置。
这是一个非常紧凑的平面基板透射率/反射率测量单元，可以安装在桌面上。
通过使用积分球，可以以低廉的价格进行“轻松”、“任何人”和“具有良好的再现性”的测量。
此外，它是一种对样品厚度和倾斜度变化影响很小的测量方法。
<特点>
・OD值（吸光度）也可以测量。
・颜色可以从 CIE 和 UCS 地图中直观地确定。
・遮光罩可阻挡环境光。
规格
| 测量波长 | 380nm ~ 1000nm （卤素灯）
* 300nm ~ 的范围请单独联系我们 |
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| 测量详细信息 | LV-RTM（R） 反射率
LV-RTM（T） 透射率
LV-RTM（RT） 反射率/透射率
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| 重复性 | ±1%（380nm~400nm）
±0.5%（400nm~800nm）
±1%（800nm~1000nm） |
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| 反射标准 | BK7 参考板，铝制高反射参考板（校准值为 LV） |
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| 透明度标准 | 10% 和 50% 透射率参考滤光片，带 LV 校准 |
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| 软件 | 透射率、反射率、OD、比色法（XYZ、xy、L*a*b* 等） |
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■详细（1） 遮光罩可阻挡环境光。
| （2） 安装样品防坠落板。
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