日本Lambda-vision拉姆达高精度、高稳定性显微光谱测量仪LVmicro-Z1它是工业领域显微光谱学的行业标准！近年来，在各个领域的微器件的制造和开发中，出现了对小规模光谱测量的需求。我们提出了 2 μm 显微镜范围内的高精度、高稳定性的显微光谱测量技术。φ2μm以上的透射率/反射率●LVmicro-Z/1主要用于5倍物镜。该系列基于使用 5 倍物镜（15μm/30μm 光斑尺寸）的测量。不包括自动对焦（仅限手动对焦）●使用 LVmicro-Z/2 20x/50x 物镜进行对焦测量，可以测量 2μm 以上的光斑尺寸。与 LVmicro-Z/1 相比，它具有耐振动的刚度，可实现稳定的微小点测量。可选功能 /R 此单位用于测量反射率。 与透射率一样，它由一个直接的小孔光学系统组成。可选功能 / OBJ 该装置用于测量漫反射率。 这是在印刷品等小区域进行的漫反射比色法测量。<特点>■ 最小可测量 2 μm。 （在显微图像的情况下，可能需要高精度的隔振台作为测量环境）■ 只有观察区域被光照射，不会生成来自其他区域的数据。 （Naora 小孔测量）■ 自动对焦标准设备 （LVmicro-Z/2） 最大限度地减少了单个误差，自动载物台用于 Z 轴样品垂直移动。■ 标配图像观察 USB 摄像头，可保存图像。■ 观察区域用指针灯照射，因此您可以一目了然地看到您正在测量的位置。■ 除上述指针灯外，还有一个通用照明（采用白色LED）用于观察整个样品图像，在光谱测量过程中灯会自动关闭。■ 光谱光源采用高精度稳压卤素灯和稳压电源。■ 样品台也有 6 英寸、8 英寸和 14 英寸样品台（手动）。 可选自动暂存。■ 光谱检测部分采用高灵敏度CCD，即使来自非常小区域的微弱信号也能实现稳定测量。■ 目前，数据匹配校正功能适用于使用其他公司的光谱仪收集数据的用户。■ 配备各种管理功能，可通过色度、透射率等设置控制范围，判断产品是否合格或有缺陷。通过选择显微镜或分光光度探测器并使用 XY 样品台，可以测量近紫外、可见光和近红外区域的光谱。■ 光谱透射光谱（标准功能）■ 光谱吸光度光谱（外径测量）（标准功能）■ 光谱反射光谱（带/R反射单元可选功能）■ 光谱漫反射光谱（带/OBJ反射单元可选功能）从上述显微数据中可以使用以下应用程序。■比色值计算（X、Y、Z、x、y、L*、a*、b*、ΔEab、白平衡、NTSC值）
